光譜響應(yīng)產(chǎn)品介紹

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。如：

1.偏置電壓無法超過 12V：傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過 12V。

2.無法做噪聲頻率分析。

3.無法直接測得 NEP 與 D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE。

特色

PD-QE 系統(tǒng)是光焱科技在過去十年的小光斑 (power mode) 基礎(chǔ)上，進(jìn)化開發(fā)完成。

PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析 擁有以下幾點特色：

*可應(yīng)用在 PV 的 EQE 量子效率測試、新型光傳感器的研究。

*在全新的軟件平臺 SW-XQE 上，具有便捷的擴展性：可測試標(biāo)準(zhǔn) EQE 外，更可整合多種 SMU 的控制，并量測IV曲線。同時具備各種分析功能，如 D*、NEP、頻率噪聲圖。

規(guī)格

*PD-QE 有不同的模塊，偏置電壓也可由 20 V 到 1000 V。同時，可測量高分辨率的光電流，分辨率最高可達(dá) 10^-16 A。

*波長擴充可達(dá) 1800 nm。

*可選配軟件升級控制 Kiethley 4200 SMU。

應(yīng)用

PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于：

*有機光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)

*鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)

*量子點光傳感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)

*新型材料光傳感器

實證

# NEP/D*

PD-QE可直接針對器進(jìn)進(jìn)行頻率噪聲的測量與作圖。

# EQE 光譜

PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可擴展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件，在 PD-QE 系統(tǒng)下，測的 EQE 量子效率光譜。

# 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測試

PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU，進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線，并進(jìn)行多圖顯示。

#噪聲電流頻譜圖

PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號采集與處理技術(shù)，直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進(jìn)行測種測試！并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。